电学分析
电学分析聚焦芯片电气参数特性，通过IV曲线、时域信号、功耗谱等数据诊断设计缺陷。北软检测提供纳米级探针测试（最小焊盘5μm）与射频参数分析（40GHz矢量网络），支持FinFET、GaN等先进器件，漏电流检测精度达pA级，助力客户优化功耗及信号完整性。
·适用场景或对象：
- ——芯片开短路故障诊断
- ——低功耗设计漏电流验证
- ——射频器件S参数测试
·检测流程：
- 1.非接触检测：红外热成像定位热点
- 2.精准电学测量：探针台（Probe Station）连接微焊盘
- 3.信号采集：参数分析仪（IV）、示波器（时域）
- 4.模型构建：SPICE模型参数提取
- 5.设计反馈：电气规则违规点标注
·服务设备：
- —— 参数测试：自动曲线追踪仪（IV）、半导体参数分析仪
- —— 高频测试：40GHz矢量网络分析仪
- —— 故障定位：微光显微镜（EMMI）、激光束诱导电阻变化（OBIRCH）
- —— 环境耦合：电磁注入平台
·典型设备或结果照片：
·联系人：
赵老师
·联系方式：
010-82825511-869